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X射线/CT系统

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XT H 225

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多用途高分辨率微焦点CT检测系统，用于小型塑料连接器及铝铸件等各种部件的研发和失效分析。

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最大能量	225 kV
X射线源　最小焦点	1 μm
最大CT扫描尺寸	280 mm
探测器最大像素矩阵	2880 x 2880
最大帧速率	30 fps

VOXLS-20

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卓越扫描范围，双射线源配置，计量级机械臂，射线源优化，支持自动化

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射线源	225kV微焦点,带静态或旋转反射靶
射线源	可选配160kV射线源及透射靶
最大扫描体积	555x759mm (?xH)
最大样本尺寸	750×1,297 mm (? x H)
最大样品重量	90kg 中心负载
系统尺寸	2,451 x 1,173 x 2,018 mm (L x D x H)
系统重量	4,800 kg

LES大型CT

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可配置型X射线/CT系统，具有大型检测室，可选配多种射线源和探测器，可满足严苛的检测要求

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X射线源最大能量	180 kV/225 kV/320 kV/450 kV
X射线源最小焦点	1 μm / 3 μm / 30 μm/ 80 μm
最大CT扫描尺寸	468 mm 800mm(D)x1415mm(H)
探测器最大像素矩阵	2850 x 2850
最大帧速率	30 fps/50 fps

XT V 130和XT V 160

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可在各行业中对PCB电路板、电子元件或小零件进行交互式拍照检测或详细的CT扫描

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X射线源最大能量	160 kV
X射线源最小焦点	1 μm
分辨率	0.5 μm
最大2D扫描尺寸	711 x 762 mm

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激光雷达测量系统

全选

APDIS激光雷达

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APDIS是最新一代激光雷达，为行业广泛的应用领域提供快速、自动化、非接触检测，为用户带来诸多优势

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测量距离	0.5 m 到 30 m / 50 m
数据采集频率	4,000 Hz
扫描速度	500-1,000 点 / 秒
特征测量方式	标准特征扫描 / 增强特征扫描
防尘防水等级	IP54

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影像测量仪

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标准机型NEXIV VMZ-S

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高精度、高速度、方便易用的微米级坐标测量。

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最大XYZ量程	650 x 550 x 200 mm
最小读数	0.01 μm
最大允许误差	EUX, MPE EUY, MPE 1.2 + 4 L / 1000 ?m
最大允许误差	EUXY, MPE 2.0 + 4 L / 1000 ?m
最大允许误差	EUZ, MPE 1.2 + 5 L / 1000 ?m
最大载重量	50 kg（精度保证：30 kg）

大视场机型NEXIV VMA

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iNEXIV VMA系列具有大视场、长工作距离和宽XYZ行程，为各种3D部件的自动测量提供超强适用性。

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最大XYZ量程	650 x 550 x 200 mm
最小读数	0.1 μm
最大允许误差	EUX, MPE EUY, MPE 2+ 8 L / 1000 ?m
最大允许误差	EUXY, MPE 3+ 8 L / 1000 ?m
最大允许误差	EUZ, MPE3 + L / 50 ?m
最大载重量	50 kg（精度保证：30 kg）

共聚焦机型NEXIV VMF-K

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能够进行高速/高分辨率3D检测。

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最大XYZ量程	650 x 610 x 150 mm
高度解析度	0.01 μm
测量精度	Eux, MPE Euy, MPE: 1.2 + 4L/1000 μm
	Euxy, MPE: 2.0 + 4L/1000 μm
	Euz, MPE: 1 + L/1000 μm
最大载重量	30 kg

高精度机型NEXIV VMZ-H

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NEXIV VMZ-H3030达到NEXIV系列中的最高精度，兼具高度的易用性和高性能。

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最大XYZ量程	300 x 300 x 150 mm
高度解析度	0.01 μm
最大允许误差	EUX, MPE EUY, MPE 0.6 + 2 L / 1000 ?m
最大允许误差	EUXY, MPE 0.9 + 3 L / 1000 ?m
最大允许误差	EUZ, MPE 0.9 + L / 150 ?m
最大载重量	30 kg

软件

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AutoMeasure是与NEXIV系统配合使用的软件，用于创建、编辑、运行和收集测量数据。

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光学手动测量

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测量显微镜

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高精度结构提供更精确的测量结果，追求高精度和使用便利性，能够应对广泛需求的测量显微镜。

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最大XYZ量程	380 x 735 x 150 mm
载物台精度	2.5 + L50 pm ( with LEC ), 3 + L50 pm
放大倍率	0.01 / 0.1 ( default ) / 1 / 10 pm
尺寸 & 重量	316 x 455 x 533 mm ( W x D x H ). 40 kg

轮廓投影仪

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这是具有出色图像质量的落地式光学轮廓投影仪，具有精确测量X-Y坐标功能。

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种类	垂直光学轴
放大精度	± 0.1 % in contour illumination, ± 0.15 % in surface illumination
最大样品尺寸	150 mm ( 5.9” )
尺寸（WxDxH）	570 x 1200 x 1900 mm ( 22.4 x 47.2 x 74.8“ )
重量（approx.）	260 kg ( 573 lbs )